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覆盖高加速寿命、冷热冲击、温湿度、低气压、振动综合与步入式全系列环境试验设备，点击卡片查看完整参数。
SOLUTIONS
行业解决方案
围绕行业痛点，输出从设备选型、试验方案设计到数据输出的一体化环境可靠性试验方案。
半导体与电子可靠性试验
Semiconductor Reliability
芯片、封装与 PCB 对湿热、高低温冲击极其敏感，失效模式复杂，可靠性验证周期长。
- HAST 高加速寿命试验，快速暴露早期失效
- 气流冲击仪 10 秒级温度冲击，适配单颗芯片
- 二箱 / 三箱冷热冲击覆盖板卡与整机级样品
方案价值 · 加速筛选潜在缺陷，缩短可靠性验证周期，降低失效率。
汽车电子环境可靠性试验
Automotive Electronics Testing
车载电子面临宽温区、湿度与振动的复合环境，单一试验无法覆盖真实服役工况。
- 温湿度 + 振动三综合试验，模拟真实路况环境
- 温湿度循环与冷热冲击覆盖整车级部件
- 步入式试验室支持大型部件与整机试验
方案价值 · 一套设备覆盖整车级环境验证需求，测试数据完整可追溯。
消费电子与环境适应性测试
Consumer Electronics Testing
消费电子出货量大、迭代快，需要在投产前快速完成高低温、湿热与温度冲击验证。
- 小型温湿度箱满足实验室快速验证
- 高低温气流冲击适配芯片与模组测试
- 数据导出与远程监控提升测试效率
方案价值 · 灵活高效的验证流程，保障产品快速可靠上市。
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