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高加速寿命试验

双容器结构 + Air-HAST 选配，满足 IEC 60068-2-66 可靠性试验

• 性能卓越的双容器结构，试验腔与蒸汽发生器完全分离，避免结露、测试更稳定
• 测试腔一键清洗功能，日常维护更高效
• 腔体采用 SUS316L 不锈钢经电解抛光，材质优越

冷热冲击

10 秒气流冲击转换，主力半导体芯片温度冲击测试

• 自复叠式制冷系统，可长时间运行不除霜
• 设备噪声控制 65dB，运行更安静
• 温度转换时间 ≤10 秒，捕捉瞬态温度冲击

冷热冲击

二箱上下移动式，电动丝杆平稳驱动，风速高、温度均匀

• 采用试验篮上下移动方式，电动丝杆平稳驱动
• 箱内送风采用测试区负压结构，风速高、温度均匀
• 可选超长时间化霜（最长 1000 循环）

冷热冲击

气动门切换高温区或低温区，三箱式测试更灵活

• 气动门切换高温区或低温区，无机械运动冲击
• 预热预冷温度区独立，温度恢复更快
• 可选超长时间化霜

温湿度试验箱

负压送风结构 + 防凝露顶部设计，温湿度试验主力机型

• 箱内送风采用负压送风结构，箱体顶部防凝露设计
• 内箱采用 SUS304 不锈钢，外箱双面镀锌钢板静电喷塑
• 前置式水箱设计，自动加水方便实用

温湿度试验箱

小容积精密温湿度试验，实验室研发场景专用

• 小容积设计（24~150L），适合实验室与研发场景
• 箱内送风采用负压送风结构，温湿度恒定速度更快
• 内箱 SUS304 不锈钢，外箱双面镀锌钢板喷塑