SOLUTIONS

解决方案

深入行业工况,提供从设备选型、试验方案设计到数据输出的完整环境可靠性试验解决方案。

Semiconductor Reliability
主推方案

半导体与电子可靠性试验

芯片、封装与 PCB 对湿热、高低温冲击极其敏感,失效模式复杂,可靠性验证周期长。

  • HAST 高加速寿命试验,快速暴露早期失效
  • 气流冲击仪 10 秒级温度冲击,适配单颗芯片
  • 二箱 / 三箱冷热冲击覆盖板卡与整机级样品

方案价值 · 加速筛选潜在缺陷,缩短可靠性验证周期,降低失效率。

Automotive Electronics Testing
主推方案

汽车电子环境可靠性试验

车载电子面临宽温区、湿度与振动的复合环境,单一试验无法覆盖真实服役工况。

  • 温湿度 + 振动三综合试验,模拟真实路况环境
  • 温湿度循环与冷热冲击覆盖整车级部件
  • 步入式试验室支持大型部件与整机试验

方案价值 · 一套设备覆盖整车级环境验证需求,测试数据完整可追溯。

Consumer Electronics Testing

消费电子与环境适应性测试

消费电子出货量大、迭代快,需要在投产前快速完成高低温、湿热与温度冲击验证。

  • 小型温湿度箱满足实验室快速验证
  • 高低温气流冲击适配芯片与模组测试
咨询方案
Aerospace Low-pressure Testing

航空航天低气压与高低温试验

机载电子在高空低压、宽温区环境下工作,需验证低气压与温度复合条件下的可靠性。

  • 高低温低气压综合控制,模拟高空环境
  • 快速卸压选配,覆盖瞬时降压场景
咨询方案
Material Aging & High-temp

材料老化与高温处理

高分子材料、涂料与元器件需在高温、干燥或低氧环境下完成老化与工艺处理。

  • 高温干燥箱支持 300℃ 长期老化试验
  • 高温厌氧箱维持低氧环境,适用特殊工艺
咨询方案
Whole-machine Walk-in Testing

大型设备整机环境试验

大型设备、整机与大型零部件需要足够空间完成温湿度试验,普通试验箱无法容纳。

  • 步入式大容积试验室,支持整机进入
  • 双开大门与斜坡设计,方便样品转运
咨询方案