三擎智造 S-HAST 高加速寿命试验机顺利验收，助力半导体可靠性测试

近日，三擎智造自研 S-HAST 高加速寿命试验机成功通过半导体客户现场验收。设备采用创新双容器结构设计，各项性能指标达到预期标准，完全满足 IEC 60068-2-66 标准试验规范，可高效开展半导体元器件高压蒸煮加速老化测试。

高加速 HAST 试验是半导体器件可靠性验证的关键环节，能够快速暴露样品水汽渗透、封装缺陷等潜在失效问题。本次交付设备凭借稳定可控的温湿度、压力控制系统，帮助客户大幅缩短可靠性验证周期，提升新品研发效率。

依托持续的技术迭代，三擎智造不断完善可靠性环境测试设备产品线，面向半导体、微电子、PCB 封装等行业提供标准化、定制化 HAST 试验解决方案。未来我们将持续深耕可靠性测试领域，以高性能试验装备赋能国内半导体产业高质量发展。